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USO DA SIMULAÇÃO DE MONTE CARLO NA AVALIAÇÃO NO PROCESSO DE CALIBRAÇÃO DE MICRÔMETRO

O presente artigo apresenta um método para avaliar a incerteza da medição. Trata- se de um método proposto pelo Suplemento 1 do GUM (Guia para Expressão da Incerteza de Medição), chamado Simulação de Monte Carlo (SMC). Esse método utiliza as Funções de Densidade de Probabilidade (FDP) das grandezas de entrada e dos parâmetros da função de medição para estimar a incerteza padrão e os intervalos de abrangência da grandeza de saída. Para ilustrar a abordagem, a Simulação de Monte Carlo foi aplicada em um processo de calibração de um micrômetro em um laboratório de metrologia. Como resultados, identificou- se que as incertezas expandidas, obtidas após 100 mil simulações, para os pontos de calibração de 22 mm e 24 mm do micrômetro, foram de 0,0014 mm e 0,001 mm, respectivamente. Adicionalmente, mediante a análise de variância (ANOVA), constatou-se que a incerteza de repetibilidade foi a maior contribuição para a incerteza de medição nos dois pontos de calibração.
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USO DA SIMULAÇÃO DE MONTE CARLO NA AVALIAÇÃO NO PROCESSO DE CALIBRAÇÃO DE MICRÔMETRO

  • DOI: https://doi.org/10.22533/at.ed.7492403097

  • Palavras-chave: Incerteza de medição, Simulação de Monte Carlo, Micrômetro, Calibração.

  • Keywords: Measurement Uncertainty, Monte Carlo Simulation, Micrometer, Calibration.

  • Abstract: This article presents a method for evaluating measurement uncertainty. It is a method proposed by Supplement 1 of the GUM (Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement), called Monte Carlo Simulation (MCS). This method uses the Probability Density Functions (PDF) of the input quantities and the parameters of the measurement function to estimate the standard uncertainty and the coverage intervals of the output quantity. To illustrate the approach, the Monte Carlo Simulation was applied in a calibration process of a micrometer in a metrology laboratory. As a result, it was identified that the expanded uncertainties, obtained after 100 thousand simulations, for the calibration points of 22 mm and 24 mm of the micrometer, were 0.0014 mm and 0.001 mm, respectively. Additionally, through analysis of variance (ANOVA), it was found that repeatability uncertainty was the largest contribution to the measurement uncertainty at the two calibration points.

  • WELLINGTON PEREIRA GOMES
  • Wellinton de Assunção
  • Moisés dos Santos Rocha
  • Mônica Frank Marsaro
  • Jean Robert Pereira Rodrigues
  • Rogerio Cardoso Carvalho
  • Samuel Victor dos Santos Araújo
  • Raí Dias Almeida
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