RECONSTRUÇÃO DE IMAGENS DE TOMOGRAFIA POR IMPEDÂNCIA ELÉTRICA POR MEIO DO MÉTODO DE RECOZIMENTO SIMULADO MODIFICADO
O problema de reconstrução da
tomografia por impedância elétrica (TIE) é
inverso, não linear e mal-condicionado, onde
se objetiva minimizar a diferença entre dados
medidos e simulados. No presente trabalho, é
descrita uma nova abordagem do método de
recozimento simulado aplicado à reconstrução
de imagens de TIE. A principal vantagem do
algoritmo apresentado é que todos os parâmetros
de condutividade do domínio são atualizados
conjuntamente, enquanto que outros métodos
que empregam o recozimento simulado ao
problema da TIE avaliam individualmente cada
parâmetro de condutividade, por isso possuindo
alto custo computacional. O algoritmo foi
testado com medidas realizadas em um tanque
de simulação física, sendo capaz de determinar
a posição, as dimensões e a condutividade de
diferentes materiais em um plano transverso de
um objeto de interesse.
RECONSTRUÇÃO DE IMAGENS DE TOMOGRAFIA POR IMPEDÂNCIA ELÉTRICA POR MEIO DO MÉTODO DE RECOZIMENTO SIMULADO MODIFICADO
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DOI: 10.22533/at.ed.86219130311
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Palavras-chave: Tomografia por impedância elétrica, problemas inversos, recozimento simulado.
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Keywords: Electrical impedance tomography, inverse problem, simulated annealing.
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Abstract:
Image reconstruction in electrical
impedance tomography (EIT) deals with an
ill-posed and nonlinear inverse problem. It
intends to minimize the difference between
simulated (virtual) object data and data from
a non simulated (real) object. In this paper, a
new approach to the Simulated Annealing
method applied to reconstruction of EIT images
is described. The main advantage in this
approach is that all conductivity parameters are
updated simultaneously. Other methods that
employ Simulated Annealing to the problem
of EIT evaluate each conductivity parameter
individually resulting in high computational
cost. The algorithm was tested both with
computationally generated data and with
measurements performed on a physical
simulation tank. In both cases, the method was
able to make data inversion, determining the
position, the dimensions and the conductivity of
materials in an opaque object plane.
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Número de páginas: 15
- Cássio Stein Moura
- Rubem Mário Figueiró Vargas
- Jefferson Santana Martins
