Teste em Componente Crítico de Uso Espacial: Ensaio de Dose Ionizante Total, (TID - Total Ionizing Dose) em Transistores 2N2222A
Uma séria dificuldade para sistemas espaciais é a radiação, provocando efeitos de curto e longo prazo em sistemas e componentes eletrônicos. Para uso destes componentes são necessários testes de radiação. Os resultados de testes referentes a Dose Ionizante Total Acumulada em um componente crítico de uso espacial são analisados e comparados com os limites aceitos de acordo com informações técnicas do fabricante do componente, avaliando como se comportaria no ambiente espacial.
Teste em Componente Crítico de Uso Espacial: Ensaio de Dose Ionizante Total, (TID - Total Ionizing Dose) em Transistores 2N2222A
-
Palavras-chave: Transistor 2N2222A; Dose Ionizante Total Acumulada; Ambiente Espacial; Componente de Satélite.
-
Keywords: 2N2222A Transistor; TID - Total Ionizing Dose; Space Environment; Satellite Component.
-
Abstract:
A serious difficulty for space systems is radiation, causing short- and long-term effects on electronic systems and components. For use of these components radiation tests are required. Test results for accumulated total ionizing dose in a critical component of spatial use are analyzed and compared to accepted limits according to the component manufacturer's datasheet, assessing how it would behave in the space environment.
-
Número de páginas: 14
- Silvio Manea
- Rafael Galhardo Vaz
- Odair Lelis Gonçalez
- Bruno Carneiro Junqueira
