AMOSTRA INFINITAMENTE ESPESSA DE SOLO E DE PLANTA PARA ANÁLISE POR ESPECTROMETRIA DE FLUORESCÊNCIA DE RAIOS X
A espectrometria de fluorescência de
raios X (XRF) é uma técnica rápida e não destrutiva
que possibilita a análise de elementos químicos
em amostras de solos e de plantas. Um dos
parâmetros a ser observado durante o preparo
da amostra para a análise por XRF é a espessura
ou a massa por unidade de área (mua) mínima
da amostra. O objetivo desse trabalho foi avaliar
um método simples pra determinar a mua mínima
de amostras de solo e de planta necessária para
obtenção de amostras infinitamente espessas.
Foram avaliadas três amostras de solo (arenoso,
argiloso e muito argiloso) e uma de madeira de
eucalipto, que foram transformadas em pastilhas
com mua de 0,14; 0,28; 0,57 e 1,14 g cm-2. As
pastilhas foram dispostas sobre uma placa de
cobre metálico e analisadas por XRF sob as
tensões de 15 e 50 keV. As únicas amostras que
apresentaram o pico Cu Kα (oriundo do porta
amostra) foram as de madeira com 0,14 e 0,28 g
cm-2 de mua. Para as amostras de solo, mesmo os
menores valores de mua a linha Cu Kα foi totalmente
absorvida pela amostra. As intensidades da
fluorescência dos elementos presentes em cada
amostra não diferiram significativamente dentro
de cada condição de leitura. Assim, a mua mínima
necessária para análise de madeira foi de 0,57 g
cm-2 e para as amostras de solo a menor quantidade
utilizada da mua (0,14 g cm-2) foi suficiente para a
obtenção da amostra infinitamente espessa.
AMOSTRA INFINITAMENTE ESPESSA DE SOLO E DE PLANTA PARA ANÁLISE POR ESPECTROMETRIA DE FLUORESCÊNCIA DE RAIOS X
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DOI: Atena
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Palavras-chave: EDXRF, massa por unidade de área, análise quantitativa, XRF, preparo de amostra.
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Keywords: EDXRF, mass per unit area, quantitative analysis, XRF, sample preparation
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Abstract:
X-ray fluorescence spectrometry (XRF)
is a fast and non-destructive technique that allows
chemical elements analysis in soil and plant
samples. The minimum thickness or mass per
area (mua) of the sample is one of the parameters
that must be observed during sample preparation
for quantitative analysis by XRF. Here, we aimed to
apply a simple method to evaluate the minimum
of soil and plant samples needed to obtain an
infinitely thick sample. Three soils (sandy, sandy clay and clay textures) and a eucalyptus wood sample were evaluated. Sieved samples
pressed to pellets with mua of 0.14; 0.28; 0.57 and 1.14 g cm-2. The pellets were placed on
a copper metal plate and analyzed by XRF under 15 and 50 keV tube voltages. Only wood
samples with 0.14 and 0.28 g cm-2 of mua showed Cu Kα peak (from the sample holder).
For the soil samples, even the lowest values of the X-ray beam was totally absorbed by the
sample. X-ray fluorescence intensities of chemical elements present in each sample did
not differ significantly within each reading condition. Thus, the mua minimum required for
eucalyptus wood analysis was 0.57 g cm-2 and for the soil samples the smallest amount mua
(0.14 g cm-2) used was sufficient to achieve the infinitely thick sample.
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Número de páginas: 15
- Elton Eduardo Novais Alves
